#45
#44
적응형 스캔 그룹화를 활용한 저전력 스캔 테스트 기법
#43
암호화 하드웨어의 부채널 공격 대응을 위한 보안 LFSR 구조
#42
스위칭 활성도 기반 저전력 테스트 포인트 삽입 방법론
#41
메모리 수리 속도 향상을 위한 결함 분포 특성 기반 고속 멀티뱅크 RA 기법
#40
SoC 다중 클럭 IP 코어를 위한 패킷 기반 Scan Test 구조
#39
Post-Silicon 프로파일 기반 MPSoC 선제적 열 분산 라우팅 아키텍처
#38
HBM TSV 수리를 위한 신호별 타이밍 민감도 기반 가중치 매칭 알고리즘
#37
저전력 통신 SoC 스캔 테스트를 위한 Data Gating 기반 테스트 포인트 삽입 기법
#36
멀티뱅크 환경에서의 메모리 수리 속도 향상을 위한 Single Fault 기반 글로벌 스페어 정렬 기법
#35
ZQ Calibration 회로를 활용한 AP Top Socket의 컨택 저항 측정 방법
#34
고급언어 기반 메모리 테스트 패턴 알고리즘 명령어 변환 모듈
#33
Fault Coverage 향상을 위한 분할된 결정론적 시드 기반 LBIST 구조
#32
테스트 커버리지 향상을 위한 양자 게이트 기반 테스트 패턴 생성기의 FPGA 설계
#31
Systolic Array의 SEU 및 영구 결함 검출을 위한 실시간 자가테스트 구조
#30
방향성 비트 반전을 고려한 SEU 편향 기반 SDC 인식 마스킹 기법
#29
시스톨릭 어레이 기반 인공지능 가속기를 위한 부채널 공격 대응 및 고장 자가 수리 기술
#28
3차원 반도체의 개방 불량 조기 검출을 위한 테스트 기법
#27
TSV 수리 가능 여부 조기 판단이 가능한 인공지능 학습 모델 분석
#26
2D diagonal parity mapping 기반의 TSV 테스트 기법
#25
양산 환경을 고려한 병렬 테스트 기법
#24
CAN ID 오류 검출이 가능한 차량용 네트워크 신뢰성 향상 기법
#23
태양광에 의한 차량용 카메라 내구 열화 현상 연구 및 필드 고품 분석
#22
Cross-Parity 기반의 향상된 스캔 테스트 구조
#21
TFT-LED의 외부 보상 회로 기반 신뢰성 향상 기법
#20
비인가된 Microprobing 접근 검출이 가능한 초소형 보안 회로
#19
DC 파라미터 테스트의 병렬성 향상을 위한 Reconfigurable 테스트 인터페이스 구조
#18
병렬성 향상을 위한 테스트 핀 감소 기법
#17
3차원 반도체의 단일 셀 수리 구조에 적용 가능한 나선형 수리 알고리즘
#16
인공지능 기반 메모리 예비자원 분석 효율 예측 기법
#15
FIB 공격 검출이 가능한 복제 불가능 보안 회로
#14
웨이퍼 및 패키지 양산환경을 고려한 High Speed Test Access Port 기반의 Design-for-Testability 방법론
#13
하드웨어 오버헤드를 최소화한 block cipher 기반의 invasive 공격 검출회로
#12
메모리 테스트를 위한 Workload 기반의 BOST 시스템 구조
#11
BOST 시스템에서 출력 핀 수를 줄이기 위한 고장 데이터 압축 방법
#10
테스트 출력 압축이 가능한 TSV 기반 차세대 반도체 테스트 구조
#09
마치 알고리즘 테스트를 위한 Instruction 기반 메모리 BOST 시스템
#08
Tri-State 검출 회로를 이용한 TSV 기반 차세대 반도체 테스트 구조
#07
Instruction-based Built Off Self-Test (BOST)를 이용한 차세대 메모리 테스트 병렬성 향상 및 핀 감소 기법
#06
Instruction-based Built Off Self-Test Methodology for Memory Test
#05
TSV간 저항성 단락 불량 검출 모델링 및 분석
#04
양산 단계에서 요구되는 SPI ROM 버전 업데이트 자동화에 관한 연구
#03
캐패시터 응용회로에서 디바이스의 대기전류 측정을 위한 최적화된 대기시간과 디바이스 인터페이스 응용회로에 관한 연구
#02
A Study on Testing Method for Specified Transactions between the Device with Built-in SPI Port and the SPI Slave Device
#01